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老化插座

低成本,高性能老化测试标准插座

老化插座:

      28 family Size 28x38mm

      3S family Size 38x48mm

      55 family Size 55x65mm

适用产品尺寸:

      0.35mm(19x19 contact max)

      0.40mm(16x16 contact max)

      0.50mm(10x10 contact max)

      0.65mm(32x32 contact max)

      BGA/QFN(LGA)

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产品介绍

FTD标准老化系列插座。采用注塑与加工相结合的结构,具有良好的使用寿命和可靠性同时又较低客户的采购成本。

产品特点

-适用Pogo PIN作为接触部件

-支持高频芯片测试

-很好的热传导性能与可靠性

-出色的接触电阻和电流承受能力

封装类型

● 球阵列封装s:BGA, LGA, WLCSP, others – 350 µm pitch and up

● 引脚类封装: QFP, SO, others – 350 µm pitch and up

● 无引脚封装: QFN, others – 350 µm pitch and up


机械性能

● 产品引脚间距: 0.4mm 及以上

● 探针弹力: 15g -40g

● 测试行程:0.3mm -0.65mm

可靠性

● 探针使用寿命:200K

● 测试插座使用寿命: 5000小时

● 清洁频率:50K


使用材料

● socket材料: 工程塑料

● 弹簧探针头材料: 合金 

● 弹簧材料: 弹簧钢


电性能

● 接触电阻:100mΩ

● 电流承载能力:1.0A 持续电流

● 介电强度能力 : AC100V rms 1 min

● 绝缘电阻能力 : 1000MΩ min 


使用环境

● 温度范围: -55°C - 150°C

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