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晶圆级探针座

P0.2mm以上晶元级别测试的低成本、高性能测试插座

-相比探针针卡有很大的成本优势

-适用P0.2mm WLCSP 产品

-适用手测、机测等多种测试方式

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产品介绍

FTD晶圆级探针座,适用P0.2mm以上的晶元封装,具有良好适用寿命和较低的成本优势。

产品特点

-适用Pogo PIN作为接触部件

-支持Kelvin测试

-出色的接触电阻和电流承受能力

封装类型

● WLCSP封装

机械性能

● 产品引脚间距: 0.2mm 及以上

● 探针弹力: 15g -30g

● 测试行程:0.5mm -0.85mm


可靠性

● 探针使用寿命:250K

● 测试插座使用寿命: >5KK 

● 清洁频率:50K


使用材料

● socket材料: 工程塑料

● 弹簧探针头材料: 合金 

● 弹簧材料: 弹簧钢


电性能

● 接触电阻:80mΩ

● 电流承载能力:2.0A 持续电流


使用环境

●  温度范围: -55°C - 150°C

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