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堆栈式测试插座

P0.4间距高精度堆叠式封装测试装置

-自主开发结构设计,简单耐用

-显著的接触电阻稳定性和超长的使用寿命

-适用P0.4 P0.5堆栈式封装

-适用手测,机测等多种测试方式

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产品介绍

FTD的堆栈式测试插座能精确的将上下芯片上的焊盘连接起来。FTD有能力设计对电性能不同要求适合最小0.4mm间距的堆栈式插座。

产品特点

FTD自主研发加工工艺,稳定的测试性能和使用寿命   

 >0.4mm 引脚间距   

三温测试能力-55°C-150°C

封装类型

●  POP 堆栈式封装

机械性能

●  产品引脚间距: 0.4mm 及以上

●  探针弹力: 15g -40g

●  测试行程:0.3mm -0.65mm

可靠性

●  探针使用寿命:200K-500K                     

●  测试插座使用寿命: >5KK                 

●  清洁频率:50K-100K


使用材料

●  socket材料: 工程塑料

●  弹簧探针头材料: 合金 

●  弹簧材料: 弹簧钢


电性能

●  接触电阻:50mΩ

●  电流承载能力:2.5A 持续电流

●  带宽: > 30GHZ @-1db


使用环境

●  温度范围: -55°C - 150°C

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